• :
  • :
  • .
22.02.2017

ИЗМЕРЕНИЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ СВОЙСТВ МАТЕРИАЛОВ

РАБОТЫ И УСЛУГИ:

  • Передача единиц относительной диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь рабочим эталонам.
  • Поверка и калибровка средств измерений в закрепленной области аккредитации.
  • Испытания радиоэлектронных средств измерений в соответствии с закрепленной областью аккредитации.
  • Разработка, изготовление и поставка высокоточных и рабочих средств измерений, в том числе первичных измерительных преобразователей (ячеек) диэлектрических параметров веществ и материалов.
  • Разработка, аттестация и поставка новых и утвержденных типов стандартных образцов диэлектрических параметров веществ и материалов, в том числе в диапазоне температур от -60 ˚С до +500 ˚С.
  • Метрологическая экспертиза методик выполнения измерений диэлектрических параметров материалов.
  • Работы по оценке состояния измерений в испытательных и измерительных лабораториях на предприятиях по данному виду измерений.
  • Измерение следующих параметров в радиотехнических устройствах и системах связи:
    • частоты в диапазоне до 78 ГГц с относительной погрешностью не более  10-8÷10-12;
    • коэффициента стоячей (бегущей) волны и коэффициента отражения в антенно-фидерных трактах в диапазоне частот 100 МГц÷78 ГГц;
    • ослабления (затухания) в коаксиальных и волноводных трактах и устройствах;
    • амплитудно-частотных характеристик и коэффициентов усиления (ослабления) коаксиальных и волноводных устройств;
    • диэлектрических параметров материалов.

РУКОВОДСТВО И КОНТАКТЫ:

Начальник отдела - Масалов Владимир Леонидович
Тел. (3952) 46-80-40
e-mail: Этот адрес электронной почты защищен от спам-ботов. У вас должен быть включен JavaScript для просмотра.

ОПИСАНИЕ ВЫПУСКАЕМЫХ ИЗДЕЛИЙ:

Государственные и отраслевые стандартные образцы (ГСО, ОСО) относительной диэлектрической проницаемости (ε) и тангенса угла диэлектрических потерь (tgδ).

ГСО входят в качестве рабочих эталонов в состав поверочных схем 8.403-80 «ГСИ. Государственный специальный эталон и государственная поверочная схема для средств измерений относительной диэлектрической проницаемости твердых и жидких диэлектриков в диапазоне частот 1∙10-1 - 107 Гц» и ГОСТ 8.711-2010 «ГСИ. Государственная поверочная схема для средств измерений относительной диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь в диапазоне частот от 1 до 78,33 ГГц»; Читать далее...

 

Решениями Межгосударственного совета по стандартизации, метрологии и сертификации ГСО признаны в качестве Межгосударственных стандартных образцов (МСО) и допускаются к применению без ограничений в государствах, присоединившихся к признанию.

Назначение СО:

  • комплектная поверка, калибровка и градуировка средств измерений  диэлектрических параметров веществ и материалов;
  • метрологическая аттестация методик выполнения измерений;
  • контроль метрологических характеристик средств измерений диэлектрических параметров при проведении их испытаний, в том числе с целью утверждения типа.

Типы поверяемых средств измерений:

  • диэлькометры ТАНГЕНС-2М, измерители диэлектрических параметров материалов Ш2-1, Ш2-5, Ш2-6, Ш2-7, Ш2-10, Ш2-11, ИДПМ, измеритель диэлектрических параметров трансформаторного масла Ш2-12ТМ, измерительные ячейки ЭС-1Т, ЯД-4, ИЯМТ, ОР-2, ОР-2М, ОР-3 и др.;
  • установки, предназначенные для реализации методов определения  диэлектрических параметров материалов по ГОСТ 22372-77 «Материалы диэлектрические. Методы определения диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь в диапазоне частот от 100 до 5·106 Гц», ГОСТ 27496.2-87 «Материалы электроизоляционные. Методы определения диэлектрических свойств на частотах свыше 300 МГц»,  ГОСТ Р 8.623-2006 «ГСИ. Относительная диэлектрическая проницаемость и тангенс угла диэлектрических потерь твердых диэлектриков. Методики выполнения измерений в диапазоне сверхвысоких частот», отраслевым стандартам (ОСТ) и аттестованным методикам измерения и tgδ.

Технические характеристики СО:

Номер ГСО  по Реестру, номер МСО,  материал СО Диапазон возможных значений аттестуемых характеристик СО, отн.ед. Относительная
погрешность значения ξ СО, %
Абсолютная
или относительная погрешность значения tgδ СО
Диапазон
рабочих частот,
Гц
ξ tgδ
ГСО 924-76 МСО 1307:2006 бензол ХЧ 2,28-2,30 - 0,1 (жидкость) - 10-1010
ГСО 925-76 МСО 1308:2006 гексан Ч 1,88-1,90 - 0,1 (жидкость) - 10-1010
ГСО 926-76
МСО 1309:2006
циклогексан Ч
2,02 – 2,04 - 0,1 (жидкость) - 10-1010 
ГСО 1683-79 МСО 1313:2006 полиэтилен 2,24-2,32 - 0,6 (диски)
1 (стержни)
- 10-1010
ГСО 1555-79 МСО 1510:2008 кварцевое стекло 3,800-3,830 - 0,2 (диски)
0,5(стержни)
- 10-2-1010
ГСО 2004-80 МСО 1511:2008 корундовая керамика 9,30-10,30 - 0,3-0,6 (диски)
1 (стержни)
- 10-1010
ГСО 2199-81 МСО 1512:2008 стандартная керамика 19,0-21,0 - 1(диски) - 10-107
ГСО 2902-84 МСО 1513:2008 керамика АЛТК 37,0-42,0 - 0,5-0,7(диски) - 10-1010
ГСО 4420-88 МСО 1514:2008 керамика ТБНС 78,0-87,0 - 1 (диски) - 10-1010
ГСО 5090-89 корундовая керамика 9,00-10,30 3x10-5-10-3 0,3-0,5 (диски)
0,5 (пластины)
15 %
15 %
109-1010
ГСО 7971-2001 стекло К8 6,40-6,80 2x10-3 -5x10-3 0,5-0,8 (диски) (6-10) % 103, 106
ГСО 7972-2001 стекло К8 6,20-6,40 6x10-3- 1x10-2 0,5 (диск) 10 % 109-1010
ГСО 1154-77 МСО 1310:2006 кварцевое стекло 3,70-3,90 - 0,5 (подложки) - 9x109-1010
ГСО 1156-77 МСО 1312:2006 ситалл СТ-38 7,20-7,50 - 0,5 (подложки) - 9x109-1010
ГСО 1158-77 МСО 1311:2006 корундовая керамика ВК100-1 9,45-9,95 - 0,5 (подложки) - 9x109-1010
ОСО 70-89П фторопласт, оргстекло, кварцевое стекло, оптические стекла ЛК105, К8, ТК21,
астроситалл  СО 105М
2,05-16,3 2x10-5-0,5 1 (диски) (0,05-0,1) tgδ+1x10-4 10-1, 100, 101, 102, 103, 104, 105, 106
ОСО 3-55-88  стекло С95-3 6,95 2,0x10-3 0,5 (диски) 10 % 106
ОСО 3-77-90  стекло С95-3 7,00 2,5x10-3 0,5 (диски) 9 % 103
ОСО 3-56-88  ситалл СТ32 9,90 1,2x10-3 0,5 (диски) 10 % 106
ОСО 3-78-90  ситалл СТ32 9,94-10,80 (5-7)x10-3 0,5 (диски) 7 % 103
Примечание - Возможно проведение дополнительно аттестации СО на основе твёрдых диэлектриков  по tgδ на частотах  0,1-10 МГц и 1-78 ГГц.

Комплектность и поставка: Стандартные образцы на основе твёрдых диэлектриков поставляются наборами с документацией в соответствии с ГОСТ 8.315-97. Состав набора определяется типом поверяемого (калибруемого, градуируемого) СИ и заказом потребителя. Размеры образцов согласованы с размерами измерительных ячеек средств измерений. Стандартные образцы на основе жидких  диэлектриков поставляются в специальной таре объёмом в соответствии с заказом потребителя.

Государственные стандартные образцы имеют сертификаты об утверждении типа.

Гарантии по срокам службы:

  • Срок действия типов СО: 5 лет с последующим продлением срока действия типа
  • Периодичность повторной аттестации СО на основе твердых диэлектриков  
        в зависимости от типа: 1,5-3 года
  • Срок годности СО на основе жидких диэлектриков: 1 год с момента аттестации

 

 

Измеритель локальных значений диэлектрической проницаемости

Измеритель предназначен для определения локальных значений диэлектрической проницаемости материалов при одностороннем доступе к объекту, а также для контроля однородности диэлектрической проницаемости материалов и изделий. Измерения производятся касанием выносного датчика прибора к поверхности материала. Прибор позволяет измерять параметры диэлектрических объектов с криволинейной поверхностью. Читать далее...

 

ТЕХНИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ

  • Рабочая частота: 1,5 ГГц
  • Диапазон измерения значений : от 1,5 до 20
  • Предел основной допускаемой относительной погрешности измерения ε: 2 %
  • Локальность измерения: 30 мм2
  • Минимальный радиус кривизны поверхности объекта: 30 мм
  • Минимальная толщина материала: 3 мм
  • Масса: 1 кг

СОСТАВ ПРИБОРА:

  • измерительный преобразователь;
  • блок управления и связи с компьютером;
  • программное обеспечение;
  • соединительные кабели.

 

Установка для измерения диэлектрических параметров материалов  в
    интервале температур 20÷420 °С на фиксированной частоте в диапазоне 8÷12 ГГц

Установка может использоваться для входного контроля диэлектрических материалов, используемых в изделиях СВЧ, исследованиях материалов в диапазоне температур. Читать далее...

 

В состав установки входят:

  • блок измерительного резонатора с инфракрасным нагревателем и  терморегулятором РТ-3;
  • измеритель модуля коэффициентов передачи и отражения Р2М-18/2;
  • персональный компьютер (ноутбук);
  • В установке реализован метод объёмного резонатора с колебанием типа H01p при фиксированной  длине (ГОСТ Р 8.623-2006).

ТЕХНИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ

  • Рабочая частота измерительного резонатора фиксированная в диапазоне: 8÷12 ГГц
  • Толщина измеряемых образцов: 2,5±0,5 мм
  • Диаметр образцов: 49,9±0,1 мм
  • Диапазон измеряемых значений  относительной диэлектрической проницаемости ε: 2÷10
  • Диапазон измеряемых значений тангенса
    угла диэлектрических потерь tgδ:  от 5∙10-4 до 10-2
  • Погрешность измерения ε: ±2 %
  • Погрешность измерения tgδ: ±20 %
  • Диапазон рабочих температур: 20 °С ÷ 400 °С
  • Время нагрева до температуры 400 °С: не более 40 мин
  • Точность поддержания температуры (в точке расположения датчика): 2÷4 °С
  • Мощность нагревателя: 300 Вт
  • Габаритные размеры блока измерительного резонатора: 150x250x300 мм

 

Резонатор щелевой для измерения диэлектрических параметров
    материалов  в диапазоне  частот  4÷20 ГГц

Резонатор щелевой (далее – резонатор) предназначен для измерений относительной диэлектрической проницаемости ε и  тангенса угла диэлектрических потерь tgδ тонколистовых материалов в диапазоне частот 4 - 20 ГГц на колебаниях H01ρ в составе измерительной установки в соответствии с ГОСТ Р 8.623-2006 «ГСИ. Относительная диэлектрическая проницаемость и тангенс угла диэлектрических потерь твердых диэлектриков. Методики  измерений в диапазоне сверхвысоких частот». Читать далее...

 

Достоинством метода является возможность измерения образцов в виде пластин, листов, подложек и дисков малой толщины при достаточно больших коэффициентах заполнения измерительного резонатора. Условиями применимости метода являются перекрытие образцом резонансной полости и выполнение неравенства  t≤c/(5fε√ε).

Резонатор образован двумя соосными цилиндрами одного диаметра и длины L  каждый, в щель между которыми помещается образец толщиной t.

Рекомендуемые размеры щелевого резонатора для измерений в диапазонах частот приведены в таблице.

Диапазон частот, ГГц Диаметр резонатора
D, мм
4 - 7 60
6 - 10 45
10 - 15 35
15 - 20 25

ТЕХНИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ

  • Толщина измеряемых образцов: от 0,5 до 2,5 мм
  • Диапазон измеряемых значений  относительной диэлектрической проницаемости ε: 1,2 ÷ 20
  • Диапазон измеряемых значений тангенса угла диэлектрических потерь tgδ: от 3∙10-5 до 1∙10-2
  • Погрешность измерения ε: ±0,5 %
  • и tgδ (в зависимости от величины tgδ) : ± от 10 до 80 %

 

Ячейка измерительная ИЯ-2Т

Ячейка измерительная ИЯ-2Т предназначена для измерений относительной диэлектрической проницаемости ε и тангенса угла диэлектрических потерь tgδ твёрдых диэлектриков толщиной от 0,5 до 2 мм в диапазоне частот от 50 Гц до 1 МГц. Читать далее...

 

Ячейка предназначена для работы с измерителем иммитанса Е7-20, измерителем RLC АКИП - 6103 или аналогичными измерительными приборами.

ТЕХНИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ

  • Диапазон частот: от 50 Гц до 1 МГц
  • Размеры измеряемых образцов:Диапазон измеряемых значений относительной диэлектрической проницаемости ε: от 2 до 10
    • диаметр: 50 ±0,1 мм
    • толщина: от  0,5  до 5  мм
  • Диапазон измеряемых значений тангенса угла диэлектрических  потерь tgδ: от 1x10-4 до 1x10-2
  • Относительная погрешность измерения по ε: ±1 %
  • Относительная погрешность измерения по tg: ±25 %
  • Диаметр электродов ячейки: 50 ± 0,05 мм
  • Давление, создаваемое подвижным электродом на образец: 10 ± 2 кН/м2
  • Шероховатость рабочих поверхностей электродов по ГОСТ 2789-73 не хуже: Ra=0,1 мкм
  • Габаритные размеры ячейки, мм: 110×120×180
  • Масса ячейки не более, кг: 0,5
  • Условия эксплуатации измерительной ячейки лабораторные.

 

ИСТОРИЧЕСКАЯ СПРАВКА: ...

 

Отдел радиотехнических измерений Восточно-Сибирского филиала ФГУП «ВНИИФТРИ» ведёт работы по обеспечению единства измерений диэлектрических параметров материалов в широком диапазоне частот и измерений постоянного электрического напряжения.

Широкое распространение диэлектрических материалов в таких областях, как информационно-телекоммуникационная техника, микро- и наноэлектроника, опто-, радио- и акустоэлектроника, разработка новых диэлектрических керамических, композитных и стекломатериалов, в том числе для авиационной промышленности и ракетно-космической техники поставило необходимость создания системы обеспечения единства измерений диэлектрических параметров.

В соответствии с существующей потребностью проводилась разработка, испытания, утверждения типа и производство специализированных приборов диэлькометров (типы Ш2-5÷Ш2-10, ИДПМ-1 и др.). В эксплуатации находится значительное число установок на основе измерителей параметров цепей с различными первичными преобразователями.

Для обеспечения единства измерений диэлектрических параметров материалов в
Восточно-Сибирского филиале ФГУП «ВНИИФТРИ» созданы и функционируют два государственных первичных специальных эталона единиц диэлектрической проницаемости:

  • 1977 год – разработан и утверждён Государственный первичный специальный эталон единицы относительной диэлектрической проницаемости в диапазоне частот 1-10 ГГц ГЭТ 110- 77, разработана и утверждена государственная поверочная схема ГОСТ 8.284-78;
  • 1980 год – разработан и утверждён Государственный первичный специальный эталон единицы относительной диэлектрической проницаемости в диапазоне частот 10-107 Гц ГЭТ 121- 80, разработана и утверждена государственная поверочная схема ГОСТ 8.403-80;
  • 1977-2001 гг. – разработаны, утверждены и внесены в Реестр 13 типов государственных стандартных образцов (СО) диэлектрической проницаемости и 11 типов отраслевых СО;
  • 1980-2005 гг. – проведены испытания с целью утверждения типа ряда диэлькометров и измерителей диэлектрических параметров материалов (Ш2-5, Ш2-7, Ш2-8, Ш2-10, ИДПМ-1, Ш2-12ТМ);
  • 1981-2011 гг. – разработаны и утверждены 7 таблиц государственных стандартных справочных данных по диэлектрическим параметрам твёрдых и жидких диэлектриков в широком диапазоне частот и температур (ГСССД 23-81, 24-81, 33-82, 178-96, 192-2001, 277-2011, 278-2011) и 2 методики ГСССД (МО 108-98, МЭ 110-02);
  • 1986-1992 гг.- разработаны и утверждены методики измерений диэлектрических параметров материалов на частотах 103 Гц и 1-10 ГГц (МИ 1584-86, МИ 2182-92);
  • 2005 г. - в области измерений постоянного электрического напряжения разработан и функционирует вторичный эталон единицы постоянного электрического напряжения в диапазоне частот от 10 Гц до 30 МГц ВЭТ 13-14-05;
  • 2006 г.- разработан ГОСТ 8.623-2006 «ГСИ. Относительная диэлектрическая проницаемость и тангенс угла диэлектрических потерь твёрдых диэлектриков. Методики выполнения измерений в диапазоне сверхвысоких частот»;
  • 2007 г. - дополнительное сличение по диэлектрическим измерениям по проекту ЕВРОМЕТ 685, участники NIST (CША), NPL (лаборатория-пилот, Великобритания), СНИИМ, ВСФ ВНИИФТРИ (Россия);
  • 2010 г. – усовершенствован и утверждён Государственный первичный эталон единиц комплексной диэлектрической проницаемости в диапазоне частот от 1 до 78,33 ГГц ГЭТ 110-2010, разработана и утверждена государственная поверочная схема ГОСТ 8.711-2010;
  • 2011 г. – подготовлен и находится на издательском редактировании проект ГОСТ Р МЭК 62562 -… «ГСИ Комплексная диэлектрическая проницаемость диэлектрических пластин с малыми потерями. Метод измерений  в объемном резонаторе»;
  • За период 1990-2011 гг. разработаны и поставлены на предприятия страны ряд установок для измерений параметров диэлектрических материалов, в том числе прямоотсчётный измеритель локальных значений диэлектрической проницаемости, установка для измерений диэлектрических параметров тонколистовых материалов по ГОСТ Р 8. 623-2006, установка для измерений диэлектрических параметров материалов в диапазоне температур 20÷420 °С , измерительные ячейки  в диапазоне частот 50 Гц-1 МГц и др.
  • 2012 г. – усовершенствован Государственный первичный эталон единиц комплексной диэлектрической проницаемости в диапазоне частот от 1 до 174,4 ГГц ГЭТ 110-2012.
 

О ДЕЯТЕЛЬНОСТИ ОТДЕЛА:...

 

  • Воспроизведение, хранение и передача единиц относительной диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь рабочим эталонам, поверка высокоточных средств измерений параметров диэлектриков в диапазонах частот 10 – 107 Гц и 1 – 10 ГГц;
  • поверка рабочих эталонов постоянного напряжения 1-го и 2-го разрядов, высокоточных мер напряжения, калибраторов напряжения, вольтметров;
  • испытания измерителей параметров диэлектриков;
  • определение диэлектрических параметров перспективных материалов для метрологии и новых технологий;
  • разработка стандартных справочных данных (ССД) по диэлектрическим свойствам материалов в диапазоне частот и температур, включая криогенные;
  • разработка новых и поставка утвержденных типов стандартных образцов диэлектрической проницаемости;
  • разработка, экспертиза и аттестация методик выполнения измерений параметров диэлектриков;
  • разработка нормативно-технической документации по диэлектрическим измерениям;
  • микроволновая влагометрия материалов;
  • проведение фундаментальных и прикладных исследований в области криоэлектроники, сверхпроводимости, сверхмалошумящих генераторов СВЧ;
  • участие в международных сличениях эталонов диэлектрической проницаемости;
  • совершенствование государственных специальных эталонов диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь;
 

НАУЧНО-ТЕХНИЧЕСКИЕ ДОСТИЖЕНИЯ:...

 

  • Создание государственных специальных эталонов единицы относительной диэлектрической проницаемости ГЭТ 110-77 и ГЭТ 121-80;
  • создание вторичного эталона единицы постоянного напряжения на эффекте Джозефсона ВЭТ 13-14-05;
  • разработка технологии контроля однородности антенных обтекателей по диэлектрической проницаемости;
  • разработка и экспериментальные исследования высокочувствительного метода измерения диэлектрических свойств тонкопленочных материалов в диапазоне частот 15-40 ГГц;
  • создание усовершенствованного Государственного первичного эталона единиц комплексной диэлектрической проницаемости в диапазоне частот от 1 до 178,4 ГГц ГЭТ 110-2012;
 

ГОСУДАРСТВЕННЫЕ ПЕРВИЧНЫЕ ЭТАЛОНЫ:

Государственный первичный эталон единиц комплексной диэлектрической проницаемости в диапазоне частот от 1 до  178,4 ГГц; ГЭТ 110-2012

Назначение: Государственный первичный эталон единиц комплексной диэлектрической проницаемости предназначен для воспроизведения и хранения единиц относительной диэлектрической проницаемости ε и тангенса угла диэлектрических потерь tg δ в диапазоне частот от 1 до 178,4 ГГц и передачи размера единиц при помощи рабочих эталонов средствам измерений с целью обеспечения единства измерений в стране. Читать далее...

 

Год утверждения: 2010 (приказ № 5379 от 23 декабря 2010 г. Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии)

Номинальное значение:

  • Рабочая частота – 1…178,4 ГГц.
  • Относительная диэлектрическая проницаемость твердых диэлектриков:
    • 1,2…500       на частотах от 1 до 18 ГГц
    • 1,2…130       на частотах от 18 до 78,33 ГГц
    • 1,2…40         на частотах от 78,33 до 174,4 ГГц
  • Тангенс угла диэлектрических потерь:
    • 1x10-8…1x10-2.    на частотах от 1 до 18 ГГц
    • 1x10-5…5x10-3.    на частотах от 18 до 78,33 ГГц
    • 1x10-4…1x10-2.    на частотах от 78,33 до 174,4 ГГц

Оценка случайной погрешности воспроизведения единиц:

  • для относительной диэлектрической проницаемости: 5x10-5 – 1x10-3;
  • для тангенса угла диэлектрических потерь: 1x10-2 – 5x10-2.

Оценка неисключенной систематической погрешности воспроизведения:

  • для относительной диэлектрической  проницаемости: 1x10-4 – 4x10-3;
  • для тангенса угла диэлектрических потерь: 1x10-2 – 2x10-1.

Стандартная неопределенность измерений эталоном:

  • относительной диэлектрической проницаемости:
    • оцениваемая по типу А: 5x10-5 – 1x10-3;
    • оцениваемая по типу В: 4x10-5 – 1,5x10-3;
    • суммарная стандартная неопределенность: 6,4x10-5 –1,8x10-3;
    • расширенная неопределенность: 2x10-4 - 5x10-3 при k=3;
  • тангенса угла диэлектрических потерь:
    • оцениваемая по типу А: 1x10-2 – 5x10-2;
    • оцениваемая по типу В: 4x10-3 – 1x10-1;
    • суммарная стандартная неопределенность: 1,1x10-2 – 1,1x10-1;
    • расширенная неопределенность: 3x10-2 – 3x10-1при k=3.

Наименование стандарта - ГОСТ Р 8.711-2010 «ГСИ. Государственная поверочная схема для средств измерений относительной диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь в диапазоне частот от 1 до 78,33 ГГц» с датой введения в действие 1 июля 2011 г. (приказ № 693 ст от 30 ноября 2010 г. . Федерального агентства  по техническому регулированию и метрологии). Первая редакция  Государственной поверочной схемы для средств измерений комплексной диэлектрической проницаемости в диапазоне частот от 1 до 178,4 ГГц

Состав эталона:

  • Эталонная установка ЭУ-1 для воспроизведения размера единиц относительной диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь в диапазоне частот от 1 до 18 ГГц, включающая измеритель модуля коэффициента передачи и отражения Р2М-40 и набор измерительных резонаторов.
    get-110-2012-e1-pic0get-110-2012-e1-pic1
  • Эталонная установка ЭУ-2 для воспроизведения размера единиц относительной   диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь в диапазоне частот от 18 до 40 ГГц,  включающая измеритель модуля коэффициента передачи и отражения Р2М-40, поляризационный аттенюатор и набор измерительных резонаторов.
  • Эталонная установка ЭУ-3 для воспроизведения размера единиц относительной диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь в диапазоне частот от 37,5 до 53,57 ГГц, включающая измеритель модуля коэффициента передачи и отражения Р2М-18, элементы СВЧ тракта, поляризационный аттенюатор, умножитель частоты   и набор измерительных резонаторов.
  • Эталонная установка ЭУ-4 для воспроизведения размера единиц относительной диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь в диапазоне частот от 53,57 до 78,33 ГГц,  включающая измеритель модуля коэффициента передачи и отражения Р2М-18, элементы СВЧ тракта, поляризационный аттенюатор, умножитель частоты и набор измерительных резонаторов.
    get-110-2012-e4-pic0
  • Эталонная установка ЭУ-5 в диапазоне частот от 78,33 до 118,1 ГГц, включающая измеритель модуля коэффициента передачи и отражения Р2М-18, элементы СВЧ тракта, поляризационный аттенюатор, умножитель частоты   и набор измерительных резонаторов.

get-110-2012-e5-pic0

  • Эталонная установка ЭУ-6 в диапазоне частот от 118,1 до 178,4 ГГц, включающая измеритель модуля коэффициента передачи и отражения Р2М-18, элементы СВЧ тракта, поляризационный аттенюатор, умножитель частоты   и открытый резонатор.

get-110-2012-e6-pic0

  • Меры диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь, являющиеся возобновляемой частью эталона.
  • Комплект оборудования для воспроизведения размера единиц относительной диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь в интервале температур от 77 К до 373 К.
  • Средства измерений линейных размеров

Область применения:

Потребность в точных измерениях диэлектрических параметров существует во многих областях науки и при производстве таких изделий и компонентов как:

  • радиочастотные кабели и диэлектрические волноводы;
  • диэлектрические подложки для интегральных СВЧ микросхем;
  • окна вывода электромагнитного излучения;
  • листовые фольгированные материалы;
  • обтекатели антенн высокоскоростных летательных аппаратов и радиопрозрачные оболочки (укрытия) бортовых и наземных антенн;
  • диэлектрические резонаторы, фильтры и другие СВЧ компоненты;
  • сверхпроводящие и  криогенные устройства со сверхнизкими шумами и уникальной чувствительностью.

Ученый хранитель эталона - Токарева Елена Юрьевна, старший научный сотрудник отдела 14 - тел. (3952) 46-80-40, e-mail: Этот адрес электронной почты защищен от спам-ботов. У вас должен быть включен JavaScript для просмотра.

 

Государственный специальный эталон единицы относительной
диэлектрической проницаемости твёрдых и жидких диэлектриков в диапазоне частот 10 - 107 Гц ГЭТ 121-80

Наименование: Государственный специальный эталон единицы относительной диэлектрической проницаемости твёрдых и жидких диэлектриков в диапазоне частот 10 – 107 Гц  ГЭТ 121-80.

Назначение: Государственный специальный эталон предназначен для воспроизведения и хранения единицы относительной диэлектрической проницаемости в диапазоне частот 10 Гц – 10 МГц и передачи размера единицы при помощи вторичных и рабочих эталонов рабочим средствам измерений в соответствии с государственной поверочной схемой ГОСТ 8.403-80. Читать далее...

 

Год утверждения: 1980.

Диапазон измерений:

  • Жидкие диэлектрики: 1-3
  • Твёрдые диэлектрики: 1-100

Метрологические характеристики:

  • Случайная погрешность воспроизведения единицы
    • Жидкие диэлектрики: 5·10-5
    • Твёрдые диэлектрики:  3·10-4
  • Неисключенная систематическая погрешность воспроизведения единицы
    • Жидкие диэлектрики: 1·10-4 – 3·10-4
    • Твёрдые диэлектрики: 5·10-4 – 7·10-4

Наименование стандарта: ГОСТ 8.403-80 «ГСИ. Государственный специальный эталон и государственная поверочная схема для средств измерений относительной диэлектрической проницаемости жидких,  твёрдых и газообразных диэлектриков в диапазоне частот 1∙10-1∙107 Гц»

Состав эталона:

  • эталонная установка для воспроизведения единицы относительной диэлектрической проницаемости твёрдых и жидких диэлектриков на частоте 103 Гц включающая измеритель ёмкости, генератор сигналов  низкочастотный Г3-109, микровольтметр селективный В6-9,  набор измерительных ячеек и средства их термостатирования;
  • средства измерений линейных размеров образцов диэлектриков – инструментальный микроскоп БМИ-1Ц, высотомер Tesa;
  • набор эталонных образцов твёрдых и жидких диэлектриков;
  • эталонные установки для оценки дисперсии относительной диэлектрической проницаемости в диапазонах частот 10 –103 Гц и 103–107 Гц;
  • средства вычислительной техники.

 


Эталонные установки для воспроизведения единицы относительной диэлектрической проницаемости твердых диэлектриков в диапазоне частот 10-107 Гц

Эталонная установка для воспроизведения единицы относительной диэлектрической проницаемости твердых диэлектриков на частоте 103 Гц и эталонные меры относительной диэлектрической проницаемости

get-121-80 pic2

Эталонная установка для воспроизведения единицы
относительной диэлектрической проницаемости жидких диэлектриков в диапазоне частот 10-107 Гц

 

Область применения:

  • Технологии доступа к широкополосным мультимедийным услугам.
  • Технологии информационных, управляющих, навигационных систем.
  • Технологии создания электронной компонентной базы и энергоэффективных световых устройств.
  • Технологии создания ракетно-космической и транспортной техники нового поколения.

Ученый хранитель эталона: Кащенко Маргарита Викторовна, зав. лаб. отдела 14 – заслуженный метролог РФ, тел. (3952) 46-80-40, e-mail: Этот адрес электронной почты защищен от спам-ботов. У вас должен быть включен JavaScript для просмотра.

 

Вторичный эталон единицы постоянного электрического напряжения ВЭТ 13-14-05

Назначение: ВЭТ 13-14-05  предназначен для хранения единицы постоянного электрического напряжения и передачи ее размера рабочим эталонам 1-го разряда, а также поверки и калибровки рабочих средств измерений: мер ЭДС, мер напряжения и калибраторов напряжения классов точности от 0,000005 до 0,0002, вольтметров и измерительных преобразователей классов точности от 0,00005 до 0,0002. Читать далее...

 

Год утверждения: 2005

ВЭТ соответствует разряду вторичных эталонов по ГОСТ 8.057-80 «ГСИ. Эталоны единиц физических величин» и рабочих эталонов 0-го разряда ГОСТ 8.027-2001 «ГСИ. Государственная поверочная схема для средств измерений постоянного электрического напряжения и электродвижущей силы»

Номинальное значение: 1.018 B

Метрологические характеристики эталона:

  • Среднее квадратическое отклонение результатов измерений при сличении вторичного эталона с эталоном копией или эталоном сравнения ФГУП «ВНИИМ им. Д.И. Менделеева»: не более 5×10-8
  • Среднее квадратическое отклонение погрешности передачи размера единицы рабочим эталонам 1-го разряда и рабочим средствам измерений: не более 1×10-7
  • Относительная нестабильность вторичного эталона за 1 год: не более 3×10-7

Состав эталона:

  • квантовая мера постоянного электрического напряжения на основе эффекта Джозефсона с микросхемой KR 10-16 и системой контроля вольтамперной характеристики и выбора рабочей ступени напряжения;
  • группа из четырех насыщенных нормальных элементов в термостате (Х489) и вспомогательный нормальный элемент Х482;
  • мера постоянного электрического напряжения МН-3 на основе стабилитрона;
  • генератор высокочастотный Г4-142 с системой фазовой автоподстройки частоты, электронносчетный частотомер Ч3-54 с блоком преобразователем частоты ЯЗЧ-88, преобразователь частоты Ч5-13, синтезатор частоты Ч6‑31 и синхронизируемый кварцевый генератор Ч1-40;
  • коммутатор, компаратор напряжений Р3003 и прибор для поверки вольтметров и калибраторов напряжения В1-18;
  • криогенное и вспомогательное оборудование.

Ученый хранитель эталона: Масалов Владимир Леонидович, тел.(3952)46-80-40,
e-mail: Этот адрес электронной почты защищен от спам-ботов. У вас должен быть включен JavaScript для просмотра.

 

ПУБЛИКАЦИИ:...

 

  • Егоров В.Н., Масалов В.Л., Семенов Ю.И. Разработка высокоточных малошумящих источников микроволновых сигналов с высокодобротными квантовыми и макроскопическими колебательными системами. Сб. отчетов по научным проектам МНТП России «Физика микроволн» за 2000 г., Н-Новгород, ИПФ РАН, 2001, с.139-142.
  • 2. Гудков О.И., Гудкова Л.О., Кащенко М.В., Рубис, А.М. Исследование дисперсии диэлектрической проницаемости в инфранизкочастотном диапазоне методом временной диэлектрической спектроскопии // Измерительная техника, №1, 2001 г.
  • Егоров В.Н., Масалов В.Л. Высокодобротные диэлектрические резонаторы в физических измерениях Тез. лекций и докладов YI Всероссийской школы семинара «Люминесценция и сопутствующие явления», г. Иркутск, ИГУ, 2000, с. 33-34.
  • Егоров В.Н., Воловиков А.С. Измерение тензора диэлектрической проницаемости сапфира при температуре от 93 до 343 К. Известия ВУЗов. Радиофизика. Том XLIV, №11.
  • Егоров В.Н., Кащенко М.В. Измерение малых диэлектрических потерь в объемном резонаторе. Измерительная техника, 2002 г. №1, с.61-65.
  • Егоров В.Н., Кащенко М.В., Онхонов Р.Р. Точность диэлектрических измерений в объемном цилиндрическом Н01р-резонаторе. Измерительная техника, 2003, №10, с.41-45.
  • 7. Egorov V.N., Masalov V.L. Measuring microwave properties of laminated dielectric substrates. REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS, VOLUME 75, NUMBER 11 NOVEMBER 2004, pp. 4423-4433.
  • 8. Victor N. Egorov, Vladimir L. Masalov, Yuri A. Nefyodov, Artem F. Shevchun, Mikhail R. Trunin, Victor E. Zhitomirsky, and Mick McLean Dielectric Constant, Loss Tangent, and Surface Resistance of PCB Materials at K-Band Frequencies IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES, VOL. 53, NO. 2, FEBRUARY 2005, рр. 627-635.
  • Костромин В.В., Ганин С.А., Егоров В.Н., Романов Б.С., Матвейчук В.Ф., Попов М.Ф. Радиационные изменения диэлектрических потерь и проницаемости политетрафторэтилена и полиэтилена, измеренных на СВЧ с помощью новых методов // Труды Y Междун. конф. «Электротехнические материалы и компоненты». МКЭМЛ-2004 (ICEMC-2004) – 20-25 сентября 2004, КРЫМ, АЛУШТА,-2004. С. 30-34.
  • Воропаев В.И., Костромин В.В., Попов М.Ф., Черницкий А.П., Егоров В.Н., Матвейчук В.Ф.. Использование волноводно-диэлектрического и объемного цилиндрического резонаторов для измерения параметров диэлектриков на СВЧ // Материалы YII Международной конференции «Актуальные проблемы электронного приборостроения» (АПЭП-2004), том 3. – Новосибирск.-2004. С. 188-193.
  • Егоров В.Н., Токарева Е.Ю. Метод металлодиэлектрического резонатора в измерениях параметров радиоматериалов. Измерительная техника, 2005, №9, с.65-70.
  • Романов Б.С., Егоров В.Н., Костромин В.В., Попов М.Ф. Влияние гамма-облучения на диэлектрические свойства СВЧ полимерных материалов, используемых для изоляции радиочастотных кабелей // Научно-технический сборник «Радиационная стойкость электронных систем. Стойкость-2005″. М.:МИФИ. Вып. 8. С.185-186.
  • Егоров В.Н., Токарева Е.Ю. Исследование однородности материалов для стандартных образцов диэлектрических параметров в СВЧ-диапазоне. Тез. доклада на Всероссийскую конференцию с международным участием «Стандартные образцы в измерениях и технологиях», г. Екатеринбург, ФГУП УНИИМ, 15-19 мая 2006 г.
  • Кащенко М.В. Состояние и перспективы разработки стандартных образцов диэлектрических параметров. Тез. доклада на Всероссийскую конференцию с международным участием «Стандартные образцы в измерениях и технологиях», г. Екатеринбург, ФГУП УНИИМ, 15-19 мая 2006 г.
  • Романов Б.С., Егоров В.Н., Костромин В.В., Попов М.Ф. Влияние ионизирующего излучения на диэлектрические свойства полиэтилена и фторопласта на СВЧ // Научно-технический сборник. «Вопросы атомной науки и техники. Серия: физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру». М.: ФГУП ЦНИИУЭИ. Вып. 1-2. 2006. С. 87-90.
  • Егоров В.Н., Костромин В.В., Романов Б.С. Влияние ионизирующего облучения на диэлектрические свойства щелочно-галоидных кристаллов на СВЧ // Научно-технический сборник «Радиационная стойкость электронных систем. Стойкость-2006″. М.:МИФИ. Вып. 9. С. 173-174.
  • Костромин В.В., Романов Б.С., Егоров В.Н., Матвейчук В.Ф. Новые методы измерения диэлектрических характеристик электроизоляционных материалов // Кабели и провода. 2006. №5. С. 16-21.
  • Костромин В.В., Романов Б.С., Матвейчук В.Ф., Егоров В.Н., Попов М.Ф. Влияние радиации на диэлектрические потери и проницаемость политетрафторэтилена и полиэтилена в диапазоне частот 5-18 ГГц // Материалы YIII Международной конференции «Актуальные проблемы электронного приборостроения» (АПЭП-2006), том 3. – Новосибирск.-2006. С. 110-113.
  • Егоров В.Н. Резонансные методы исследования диэлектриков на С.В.Ч. Приборы и техника эксперимента, 2007, №2, с. 5-38.
  • Viktor N. Egorov The Non-homogeneity of Permittivity in Microwave Dielectric Resonator.  – Progress In Electromagnetics Research Symposium Abstracts, Cambridge, USA, July 2-6, 2008, pp. 95-98.
  • Крылов В.П., Никишов С.С., Ромашин В.Г., В.Н. Егоров, Б.А. Вторушин Определение диэлектрической проницаемости криволинейных оболочек при одностороннем доступе. // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2009, №3, том 79., с.33-38.
  • Пат. RU 2365926 C1 Российская федерация, МПК G 01 R 27/26. Способ определения диэлектрической проницаемости криволинейного слоя материала и устройство для его осуществления / Вторушин Б.А., Ева И.В., Егоров В.Н., Крылов В.П., Никишов С.С, Ромашин В.Г.,  Хемицаев А.С.; заявитель и патентообладатель ФГУП «Обнинское научно-производственное предприятие «Технология».- №2008104298/28; заявл. 04.02.2008; опубл. 27.08.2009; приоритет изобретения 04.02.2008. – с. 9.
  • Егоров В.Н.,Костромин В.В., Романов Б.С., Черницкий А.П.  Метод цилиндрического резонатора Е010  для исследования диэлектриков на СВЧ , Кабель-news, 2009,  №9, с.53-55.
  • Egorov V.N., Masalov V.L., Ozhogov I.B. Anisotropy of Dielectric Losses in Al2O3 and SiO2 Single Crystals.// Technical Physics Letters, 2009, Vol.35, No. 12, pp. 1081-1085.
  • Егоров В.Н. Характеристики резонаторов СВЧ с нерезонансным просачиванием мощности. Известия ВУЗов. Радиофизика, №8, 2010, 493-503.
  • Егоров В.Н., Масалов В.Л., Кащенко М.В., Токарева Е.Ю. Концепция развития метрологического обеспечения в области диэлектрических измерений. Изв. ВУЗов. Физика,   г. Томск,  №9/2, 2010, с. 207-210.
  • В.Н. Егоров,  Е.Ю. Токарева Направленное  возбуждение диэлектрических  резонаторов с азимутальными колебаниями. Тезисы доклада. 9-я Международная IEEE- Сибирская конференция по управлению и связи «SIBCOM 2011″.– 15-16 сентября. Красноярск.– С.395-398.
  • В.Н. Егоров, М.В. Кащенко, В.Л. Масалов, Е.Ю. Токарева  Измеритель диэлектрических параметров материалов на СВЧ при температуре  до  420 °С.  Тезисы доклада. 9-я Международная IEEE-Сибирская конференция по управлению и связи «SIBCOM 2011″.– 15-16 сентября. Красноярск.– С. 493-496.
  • Таблицы стандартных справочных данных ГСССД 277-2011. Кварц монокристаллический. Компоненты тензора относительной диэлектрической проницаемости в диапазоне температур 77….373 К/ В.Н. Егоров, М.В. Кащенко, В.Л. Масалов, Е.Ю. Токарева. Росс. Научно-техн. Центр информации по стандартизации, метрологии и оценке соответствия. М., 2011.-13 с., деп. во ФГУП «СТАНДАРТИНФОРМ» 02.06.2011, № 869-2011 кк.
  • Таблицы стандартных справочных данных ГСССД 278-2011.  Гранат иттрий-алюминиевый. Относительная диэлектрическая проницаемость в диапазоне температур 77….373 К/ В.Н. Егоров, М.В. Кащенко, В.Л. Масалов, Е.Ю. Токарева. Росс. Научно-техн. Центр информации по стандартизации, метрологии и оценке соответствия. М., 2011.-11 с., деп. во ФГУП «СТАНДАРТИНФОРМ» 02.06.2011, № 870-2011 кк.
  • ГОСТ Р 8.711-2010 «ГСИ. Государственная поверочная схема для средств измерений относительной диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь в диапазоне частот от 1 до 78,33 ГГц».  Введен в действие 01.07.2011 г.
  • Егоров В. Н., Токарева Е. Ю. Поверхностное сопротивление немагнитных и магнитных металлов на СВЧ // Известия ВУЗов. Физика, 2012, т. 55, №9/2, с.243-247.
  • Нонг Куок Куанг,  Масалов В.Л., Егоров В.Н. Метод открытого диэлектрического резонатора для измерения диэлектрических потерь в диапазоне частот 118-178 ГГц // Известия ВУЗов. Физика, 2012, т. 55, №8/2, с.302-304.
  • Антоненко И.В., Егоров В.Н., Костромин В.В., Масалов В.Л.,  Романов Б.С., Черницкий А.П. Диэлектрические характеристики полимерных изоляционных пленок на частотах 12-16 ГГц // Кабели и провода.- 2012.- №2 (333).- С.14-19.
  • Егоров В.Н. Государственный первичный эталон единиц комплексной диэлектрической проницаемости в диапазоне частот от 1 до 78,33 ГГц // В кн.  "Радиотехнические эталоны величин для приоритетных научно-технических направлений и новейших технологий" / М.В. Балаханов, Р.И. Уздин, В.И. Пругло, В.З. Маневич, В.Н. Егоров / Моск. обл., г.п. Менделеево, ФГУП "ВНИИФТРИ".-2012.-119 с.
  • Егоров В.Н., Костромин В.В., Токарева Е.Ю. Метод H01р-резонатора для измерения диэлектрических параметров стержней // Кабели и провода, 2013, №1(338), с. 22-24.
  • Егоров В.Н., Токарева Е.Ю. Метод H01р - резонатора для измерения электромагнитных параметров стержней, трубок, порошков и жидкостей // Изв. ВУЗов. Физика, г. Томск, 2013, том 56, №8/2, с. 350-352.
  • Егоров В.Н., Кащенко М.В., Масалов В.Л., Токарева Е.Ю. Установка  для измерения диэлектрических параметров материалов при нагреве до 1800 °С // Изв. ВУЗов. Физика, г. Томск, 2013, том 56, №8/2, с.347-349.
  • Егоров В.Н., Кащенко М.В., Масалов В.Л., Токарева Е.Ю., Нонг Куок Куанг  Государственный первичный эталон единиц комплексной диэлектрической проницаемости в диапазоне частот от 1 до 178,4 ГГц // Измерительная техника, 2014, №1, с.3-7.